包括但不限于：　　(1)具有独立承担民事责任的能力，提供法人或其他组织的营业执照等证明文件，复印件加盖公章。

近日，山东大学就8英寸以上应力分析用共聚焦拉曼测试仪采购项目(项目编号：SDJDHD20230411-Z229/SDSM2023-31463)发布招标公告，预算金额为250万元。该招标项目的潜在投标人应在山东大学采购网, 在对应招标公告中下载公开招标文件获取招标文件，并于2023年12月01日 14点30分(北京时间)前递交投标文件。

请潜在供应商及时关注系统内相关信息，在系统内发布的信息均自行承担相应后果。4、本项目采用电子标。获取招标文件时间：2023年11月11日 至 2023年11月17日，每天上午8:30至12:00，下午13:30至17:00。6、供应商必须整包响应，不可分拆投标。项目基本情况项目编号：SDJDHD20230411-Z229/SDSM2023-31463项目名称：山东大学8英寸以上应力分析用共聚焦拉曼测试仪采购预算金额：250.000000 万元(人民币)采购需求：8英寸以上应力分析用共聚焦拉曼测试仪采购，具体内容详见公开招标文件合同履行期限：自合同签订之日起至合同全部权利义务履行完毕之日止本项目( 不接受 )联合体投标。

高校是堪当重任的国家科技创新战略力量。2.落实政府采购政策需满足的资格要求：无3.本项目的特定资格要求：①投标人在信用中国、中国政府采购网等网站，未被列入失信被执行人名单、重大税收违法失信主体、政府采购严重违法失信行为记录名单。其适用于以散斑点为特征点、以数字图像相关法为基本原理的视觉测量仪的校准。

为了使国家计量技术规范能广泛适用和更具可操作性，特向全国有关单位及专家公开征求意见和建议。其适用于干涉式三维表面形貌测量仪的校准，其它基于干涉原理的显微镜校准也可参照本规范。本规范内容包括：引言。数据采集模块，通过无线或有线通讯与陀螺本体互联，可在外部触发或内部触发下实时采集角度测量结果，测量结果可传输至上位机显示或分析。

特征结构位于标准片的中心，可通过辅助图形帮助快速定位。其适用晶圆级标准片的校准。

《晶圆级台阶高度/凹槽深度标准片校准规范》晶圆级台阶高度/凹槽深度标准片是用来校准微电子集成电路领域微纳表面形貌测量仪的标准器。相关资料下载： 附件.rar 关注本网官方微信 随时阅读专业资讯。其适用于环形激光陀螺测角仪和光纤陀螺测角仪的角位置相关计量性能的校准。《晶圆级薄膜厚度标准片校准规范》晶圆级薄膜厚度标准片指以硅晶圆片为基底，采用化学气相沉积(CVD)、物理气相沉积(PVD)以及原子层沉积(ALD)等方法生长出微纳米量级的单层二氧化硅薄膜，主要被测参数为薄膜厚度，晶圆级薄膜厚度标准片是集成电路产线质控的必要器件。

其基底为硅晶片，通过对其表面氧化膜刻蚀得到台阶结构，可适应于接触或非接触式的各类表面形貌显微测量装置。《散目标式视觉测量仪校准规范》散目标式视觉测量仪是以散斑为目标点，利用数字相机获取散斑的数字图像，经数字图像相关法运算，获得被测对象表面坐标的测量仪器，常用于零件表面变形/应变的测量，也称为全场变形/应变测量系统，具有非接触测量、全场测量、动态测量等特性。同时，该规范制定内容只涉及光学陀螺测角仪在特定温度范围内角位置测量结果的校准方法，未涉及光学陀螺测角仪在不同温度条件下的校准方法，也不涉及光学陀螺测角仪角速度测量结果的校准方法。根据国家市场监督管理总局下达的国家计量技术规范制修订计划，全国几何量长度计量技术委员会已完成《晶圆级薄膜厚度标准片校准规范》《晶圆级台阶高度凹槽深度标准片校准规范》《干涉式三维表面形貌测量仪校准规范》《光学陀螺测角仪校准规范》和《散目标式视觉测量系统校准规范》5项计量技术规范的征求意见稿。

其适用于晶圆级薄膜厚度标准片的校准，薄膜材料为硅上二氧化硅，校准方法为激光椭偏仪，同时其他材料的晶圆级薄膜厚度标准片的校准也可以参照本规范。包括晶圆级台阶高度标准片、晶圆级凹槽深度标准片的首次校准、后续校准和使用中检查。

【化工仪器网 标准发布】计量是实现单位统一、保证量值准确可靠的活动，关系国计民生，计量发展水平是国家核心竞争力的重要标志之一。社会公用计量标准作为统一量值的法定依据，是推动高质量发展的重要基础设施，是国家的重要战略资源。

《光学陀螺测角仪校准规范》光学陀螺测角仪是基于萨格纳克效应发展出来的一种角度测量仪器，陀螺本体，光路内藏于壳内，卡盘下表面与陀螺敏感面平行，通过卡盘安装在载体工作面上其适用于干涉式三维表面形貌测量仪的校准，其它基于干涉原理的显微镜校准也可参照本规范。其适用晶圆级标准片的校准。《散目标式视觉测量仪校准规范》散目标式视觉测量仪是以散斑为目标点，利用数字相机获取散斑的数字图像，经数字图像相关法运算，获得被测对象表面坐标的测量仪器，常用于零件表面变形/应变的测量，也称为全场变形/应变测量系统，具有非接触测量、全场测量、动态测量等特性。包括晶圆级台阶高度标准片、晶圆级凹槽深度标准片的首次校准、后续校准和使用中检查。复校时间间隔以及附录几个部分。

本规范内容包括：引言。其适用于以散斑点为特征点、以数字图像相关法为基本原理的视觉测量仪的校准。

相关资料下载： 附件.rar 关注本网官方微信 随时阅读专业资讯。本规范根据JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》，本规范内容包括：引言。

《晶圆级台阶高度/凹槽深度标准片校准规范》晶圆级台阶高度/凹槽深度标准片是用来校准微电子集成电路领域微纳表面形貌测量仪的标准器。其适用于环形激光陀螺测角仪和光纤陀螺测角仪的角位置相关计量性能的校准。

根据国家市场监督管理总局下达的国家计量技术规范制修订计划，全国几何量长度计量技术委员会已完成《晶圆级薄膜厚度标准片校准规范》《晶圆级台阶高度凹槽深度标准片校准规范》《干涉式三维表面形貌测量仪校准规范》《光学陀螺测角仪校准规范》和《散目标式视觉测量系统校准规范》5项计量技术规范的征求意见稿。【化工仪器网 标准发布】计量是实现单位统一、保证量值准确可靠的活动，关系国计民生，计量发展水平是国家核心竞争力的重要标志之一。数据采集模块，通过无线或有线通讯与陀螺本体互联，可在外部触发或内部触发下实时采集角度测量结果，测量结果可传输至上位机显示或分析。《光学陀螺测角仪校准规范》光学陀螺测角仪是基于萨格纳克效应发展出来的一种角度测量仪器，陀螺本体，光路内藏于壳内，卡盘下表面与陀螺敏感面平行，通过卡盘安装在载体工作面上。

《干涉式三维表面形貌测量仪校准规范》干涉式三维表面形貌测量仪基于双光束干涉的原理，经样品表面反射回的参考光与测量光形成干涉条纹，并经由CCD采集，经过算法重构获得表面形貌，在垂直方向上可以达到亚纳米级的分辨力。特征结构位于标准片的中心，可通过辅助图形帮助快速定位。

同时，该规范制定内容只涉及光学陀螺测角仪在特定温度范围内角位置测量结果的校准方法，未涉及光学陀螺测角仪在不同温度条件下的校准方法，也不涉及光学陀螺测角仪角速度测量结果的校准方法。为了使国家计量技术规范能广泛适用和更具可操作性，特向全国有关单位及专家公开征求意见和建议。

其适用于晶圆级薄膜厚度标准片的校准，薄膜材料为硅上二氧化硅，校准方法为激光椭偏仪，同时其他材料的晶圆级薄膜厚度标准片的校准也可以参照本规范。《晶圆级薄膜厚度标准片校准规范》晶圆级薄膜厚度标准片指以硅晶圆片为基底，采用化学气相沉积(CVD)、物理气相沉积(PVD)以及原子层沉积(ALD)等方法生长出微纳米量级的单层二氧化硅薄膜，主要被测参数为薄膜厚度，晶圆级薄膜厚度标准片是集成电路产线质控的必要器件。

其基底为硅晶片，通过对其表面氧化膜刻蚀得到台阶结构，可适应于接触或非接触式的各类表面形貌显微测量装置。社会公用计量标准作为统一量值的法定依据，是推动高质量发展的重要基础设施，是国家的重要战略资源潜在供应商必须按相关程序办理数字证书(CA用于电子投标文件签章及加密)和安装投标文件工具后方可在系统上传电子投标文件。申请人的资格要求：1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定。

③投标产品为进口产品的，须提供制造商或可追溯到制造商合法授权的代理商出具的针对本项目的授权书。其他补充事宜1、本项目不属于专门面向中小企业采购项目。

2、为采购项目提供整体设计、规范编制或者项目管理、监理、检测等服务的供应商，不得再参加该采购项目的其他采购活动(单一来源采购项目除外)。5、潜在投标人在使用系统进行电子投标文件编制过程中遇到任何技术问题均可向系统技术支持咨询。

近年来，我国高校科技整体水平大幅提升，更需抓住新一轮科技革命和产业变革机遇，紧密贴合好、衔接好科研成果与社会经济发展需要，进一步发挥高校科研工作的优势。②单位负责人为同一人或者存在控股、管理关系的不同单位，不得参加同一合同项下(同一标段)的项目投标。